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II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 65S

II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 65S

型號:LCG 65S

產(chǎn)品時間:2023-11-12

簡要描述:

II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 65S主要用于MOV、TVS、GDT、SPD等浪涌保護裝置進行模擬雷擊試驗,也可用于其它的科學研究,具有系統(tǒng)集成度高、控制智能化,操作簡便等優(yōu)點。

推薦產(chǎn)品
詳細介紹

II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 65S

技術參數(shù)

項目

8/20μs電流波

輸出峰值

35kA,65kA,120kA,150kA,200kA

T1波前時間

8μs±10%

T2波尾時間

20μs±10%

反向過沖

<20%

波前振蕩

<5%

電壓極性

正/負,(自動切換)

波形切換

自動切換

充電時間

10s~999s

充電電壓不穩(wěn)定度

小于1%

外部同步輸入

50Hz

觸發(fā)方式

自動或手動,可單次觸發(fā)

觸發(fā)誤動率

小于1%

觸發(fā)范圍

100%額定充電電壓

相位測試范圍

0~360°

動作負載測試

內置,0~500V,5A持續(xù)供電

顯示屏

10英寸TFT彩色觸摸屏

測量顯示精度

優(yōu)于3%

測試產(chǎn)品類型

MOV,TVS,GDT,SPD,電源類浪涌保護器等

被試品殘壓

<5kV

電流測量(可選)

內置測試箱,羅斯線圈測量,面板BNC輸出

電壓測量(可選)

內置測試箱,純阻性分壓器,面板BNC輸出

示波器

MDO3012,可選

絕緣強度

≤500V RMS(公共端COMMON對地參考PE)


II類全自動沖擊電流測試系統(tǒng)LCG 65S
優(yōu)點:
1.采用開放式結構,簡潔美觀;
2.采用立體向心式布局,回路電感量小,放電均勻;
3.設備需安裝在獨立的測試房間,安裝門禁系統(tǒng),保證用戶的安全;
4.操作方便靈活,可以集成較高的自動化控制,自動循環(huán)控制;
5.可搭配crowbar觸發(fā)系統(tǒng)進行10/350us波形試驗,最高可輸出100kA;
6.針對不同的測試目的,可配合不同的波形發(fā)生網(wǎng)絡,產(chǎn)生各種輸出波形;
7.配置MCS2000自動控制系統(tǒng)。

S46T-18 最多為 32 端接繼電器,包括 18 和 26.5GHz GPIB 全機架,2U

"4200A-SCS-PK1 

高分辨率 IV 套件" "210V/100mA,0.1 fA 分辨率 

對于兩端和三端設備,MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括:

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

"4200A-SCS-PK2 

高分辨率 IV 和 CV 套件" "210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 

對于高 K 電解質,深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括:

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

"4200A-SCS-PK3 

高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件" "210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz 

對于功率設備、高 K 電解質,深亞微米 CMOS 設備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括:

4200A-SCS 參數(shù)分析儀

(2) 4200-SMU 模塊

(2) 4210-SMU

(1) 4200-PA 前置放大器

(1) 4210-CVU 電容-電壓模塊

(1) 8101-PIV 測試夾具與采樣設備"

"4200-BTI-A 

超快 NBTI/PBTI 套件" "用于使用* CMOS 技術套件進行復雜的 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 包括:

(1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊

(2) 4225-RPM 遠程前置放大器/開關模塊

自動化檢定套件 (ACS) 軟件

超快 BTI 測試項目模塊

電纜"

2600-PCT-1B 低功率 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A 200 V/10 A - US $26,600

2600-PCT-2B 高電流 200 V/10 A 200 V/10 A 40 V/50 A 40 V/50 A - US $45,300

2600-PCT-3B 高壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 200 V/10 A 200 V/10 A - US $52,600

2600-PCT-4B 高電流和高電壓 3 kV/120 mA 3 kV/120 mA 40 V/50 A 40 V/50 A - US $71,400

S500 - 配置與報價

S530. - 配置與報價

S535 - 配置與報價

S540 - 配置與報價

708B 單槽半導體開關矩陣,具有高達 96 個相交點

707B 六槽半導體開關矩陣,具有高達 576 個相交點

ACS-BASIC ACS 基礎版主要適合通過手動探頭測試臺和測試夾具進行半導體元器件測試。通過“譜線模式”快速地以交互方式執(zhí)行初始器件檢定?;蛘?,使用基于 GUI 的設置屏幕和廣泛的測量庫創(chuàng)建詳細的參數(shù)提取測試。

ACS. ACS 支持各種半自動和全自動探頭在整個晶片上對半導體器件進行測量。 或者,以交互方式控制探頭測試每個器件。 在運行時期間,通過單器件結果和多器件統(tǒng)計監(jiān)視測試進度。

PSPL5865 12.5 Gb/s 26 dB 7.5 Vp-p 非逆 2.3 W - US $2,570

 


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