GTEM750小室
- IEC 61000-4-3
- IEC 61000-4-20
- GB/T 17626.3
PPG3204 4 通道可編程碼型發(fā)生器 32 Gb/s - 配置與報價
LE320 32 Gb/s 9 抽頭線性均衡器 32 Gb/s - 配置與報價
相干信號生成 AWG70001A 系列任意波形發(fā)生器 以每秒 50 G 采樣率和 10 位分辨率生成波形
相干信號生成 PPG3000、PPG4000 系列可編程碼型發(fā)生器 數據速率高達 40 Gb/s,8 ps 上升時間
相干光調制 OM5110 多格式光發(fā)射機 雙偏振調制高達 46GBaud,采用自動偏置控制
相干光采集 OM4200 系列光調制分析儀 雙偏振相干檢測,45 GHz 模擬帶寬
相干光采集 OM70000 光調制系統(tǒng) 完整的系統(tǒng)能夠進行雙偏振相干檢測,70 GHz 模擬帶寬。 包括 70 GHz 示波器與 OM1106 分析軟件。
相干光采集 OM2210 相干光接收機校準源 C 波段和 L 波段光調制分析儀的校準
相干光采集 DPO70000SX 系列示波器 靈活采集,帶寬最高可達 70 GHz,采樣率可達 200GS/s
GTEM750小室構成的輻射敏感度(抗擾度)測試系統(tǒng)為小型電子產品的輻射電磁場干擾敏感性提供有力的測試依據。測試系統(tǒng)構成:主要由標準信號源、功率放大器、場強監(jiān)視器、計算機及操控軟件和GTEM 室體組成。
AWG70002A 2 8、9 或 10 位 高達 14 GHz 10 GHz 25 GS/s 16 GS/s 8 GS/s 2 GS - 8 GS(可選) - 配置與報價
GETM型號 | GTEM250 | GTEM500 | GTEM750 | GTEM1000 | GTEM1250 |
輸入功率(瓦) | 250/500 | 500/1000 | 600/1200 | 800/1600 | 800/1600 |
EUT 電源插座數量 | 1 | 2 | 2 | 2 | 2 |
外部尺寸(長×寬×高cm) | 115×64×44 | 300×165×110 | 400×220×147 | 500×276×184 | 600×330×220 |
門尺寸(寬×高cm) | 30×23 | 42×40 | 61×61 | 79×79 | 100×100 |
輪子 | 無 | 可選 | 標配 | 標配 | 標配 |
EUT(長×寬×高cm) | 20×20×15 | 40×40×30 | 60×60×50 | 75×75×70 | 100×100×85 |
定義的測試體積±3dB,<1GHz(長 ×寬×高cm) | 15×15×10 | 30×30×15 | 45×45×25 | 60×60×30 | 75×75×42 |
隔板高度(mm) | 250 | 500 | 750 | 1000 | 1250 |
屏蔽性能 | 10kHz-10MHz:>50dB | 10MHz-20MHz:>100dB |
連接器 | N 型 |
阻抗 | 50Ω |
頻率范圍 | 0.1MHz-20GHz |
典型駐波比(頻率大5HGZ) | 1:1.2 |
重量(公斤) | 80 | 200 | 400 | 650 | 850 |