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BERTScope BSX 系列誤碼率測試儀引入了能夠支持第四代及以上新興標(biāo)準(zhǔn)的接收機(jī)測試平臺(tái)。通過增加強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和內(nèi)置發(fā)射機(jī)均衡技術(shù)，BERTScope 支持基于協(xié)議的握手功能，并與被測器件 (DUT) 同步，包括交互式鏈路訓(xùn)練，支持最高 32 Gb/s 的數(shù)據(jù)速率。BSX 系列縮短了調(diào)試物理層和鏈路訓(xùn)練問題所需的時(shí)間，為滿足各種標(biāo)準(zhǔn)提供了較快速的途徑。

歐盟客戶通知

本產(chǎn)品尚未更新以符合 RoHS 2 指令 2011/65 / EU 要求，且將不會(huì)發(fā)貨至歐盟。在 2017 年 7 月 22  日前，客戶可以通過歐盟市場的庫存購買產(chǎn)品直至庫存SHOU罄。泰克致力于為您提供所需的解決方案。請(qǐng)聯(lián)系您的當(dāng)?shù)劁N售代表以獲取進(jìn)一步幫助，或確定是否有可用的替代產(chǎn)品。泰克將繼續(xù)為全球范圍內(nèi)仍享受質(zhì)保支持的產(chǎn)品提供服務(wù)。

主要性能指標(biāo)

• 高達(dá) 32 Gb/s 的碼型發(fā)生和誤碼分析功能
• 選配內(nèi)置 4 階發(fā)射機(jī)均衡功能，支持交互式鏈路訓(xùn)練
• 面向協(xié)議和面向位的多鏈碼型定序技術(shù)，增強(qiáng)型碼型/序列編輯器
• 激勵(lì)響應(yīng)反饋，用戶自定義檢測器碼型匹配
• 已獲專LI的誤碼定位分析技術(shù)（Error Location Analysis™ ），超越BER測量，分析關(guān)聯(lián)度和確定性錯(cuò)誤碼型，深入了解誤碼根源
• 選配前向糾錯(cuò)分析技術(shù)，根據(jù)測得誤碼位置碼型仿真FEC后誤碼率
• 集成眼圖和 BER 關(guān)聯(lián)功能，包括模板測試、抖動(dòng)峰值、BER輪廓
• 選配抖動(dòng)分離及定位 (Jitter Map) 系統(tǒng)，提供豐富的抖動(dòng)解析 – 支持長碼型（如 PRBS-31）

主要特點(diǎn)

• 為接收機(jī)壓力測試、調(diào)試和*性測試提供單一解決方案
• 測試第三代和第四代標(biāo)準(zhǔn)，包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各種自主開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)
• 超過 16 Gb/s 的 DUT 握手功能，滿足環(huán)回發(fā)起和自適應(yīng)鏈路訓(xùn)練的接收機(jī)測試要求，支持 PCIe 等主要標(biāo)準(zhǔn)
• 協(xié)議識(shí)別碼型發(fā)生和誤碼檢測，支持靈活的激勵(lì)響應(yīng)編程能力，調(diào)試握手問題。
• 前向糾錯(cuò)(FEC)仿真選項(xiàng)，可以測量糾錯(cuò)前和糾錯(cuò)后BER，支持常用的Reed-Solomon FEC代碼。
• 為各種主要標(biāo)準(zhǔn)提供了校準(zhǔn)和測試自動(dòng)化軟件

應(yīng)用

• 設(shè)計(jì)驗(yàn)證，包括信號(hào)完整性、抖動(dòng)和時(shí)序分析
• 測試高速串行系統(tǒng)、復(fù)雜設(shè)計(jì)的性能
• 設(shè)計(jì)/驗(yàn)證高速 I/O 組件和系統(tǒng)，包括 DUT 握手
• 信號(hào)完整性分析 – 模板測試、峰值抖動(dòng)、BER輪廓、抖動(dòng)分離及定位（Jitter Map)和前向糾錯(cuò)仿真

智能內(nèi)存排序

由于面向位的內(nèi)存排序模式和協(xié)議識(shí)別內(nèi)存排序模式，另外由于能夠根據(jù)用戶自定義檢測器碼型匹配情況推進(jìn)排序器，BSX 系列允許用戶創(chuàng)建自己的基于協(xié)議的碼型和握手序列。

碼型內(nèi)存排序器

BSX系列內(nèi)存排序器可以靈活地間接接入碼型內(nèi)存。碼型內(nèi)存可以支持兩級(jí)循環(huán)嵌套，每個(gè)循環(huán)高達(dá)100萬次迭代。用戶可以通過多種手段控制與測試設(shè)備的握手。為進(jìn)一步簡化編程，提高內(nèi)存效率，各個(gè)碼型段可以是大于128位的任意尺寸。內(nèi)存序列推進(jìn)可以由軟件控制、外部信號(hào)或檢測器碼型匹配來控制、外部信號(hào)或檢測器碼型匹配來控制，用戶可以通過多種手段控制與測試設(shè)備的握手。

內(nèi)存排序器模式

為了能讓用戶更靈活、更簡便地創(chuàng)建和檢測碼型和序列，我們提供了兩種不同的排序器模式，兩種模式都支持上面介紹的環(huán)路和序列推進(jìn)功能：

• 面向位的排序器模式。在面向位的模式下，從碼型內(nèi)存中把沒有刪減的位發(fā)送到發(fā)生器輸出，不使用協(xié)議處理。這相當(dāng)于傳統(tǒng) BERT 內(nèi)存碼型操作。
• 協(xié)議識(shí)別排序器模式。在協(xié)議識(shí)別模式下，碼型內(nèi)存字作為協(xié)議塊或符號(hào)組處理，而不是作為位處理。這些字從內(nèi)存中獲取，根據(jù)選擇的協(xié)議或編碼處理。視具體協(xié)議要求，面向協(xié)議的模式處理可以包括：
  • 把符號(hào)封裝到協(xié)議塊中
  • 符號(hào)編碼
  • 數(shù)據(jù)加擾
  • DC 均衡

  用戶可以以“自然”格式輸入內(nèi)存數(shù)據(jù)。注意，可以實(shí)現(xiàn)排序器狀態(tài)之間的跳轉(zhuǎn)，而不會(huì)出現(xiàn)數(shù)據(jù)“縫補(bǔ)”問題，因?yàn)榕判蚱鲿?huì)保持加擾 /DC 均衡狀態(tài)。

檢測器碼型匹配

BSX 系列支持選配的用戶自定義檢測器碼型匹配功能，可以用來推進(jìn)發(fā)生器排序器狀態(tài)。這種功能實(shí)現(xiàn)了靈活的激勵(lì)/響應(yīng)編程能力，支持調(diào)試協(xié)議和專有協(xié)議。與內(nèi)存排序器一樣，碼型匹配支持兩種模式：

• 面向位的匹配模式。面向位的模式包括 4 個(gè)通用檢測器碼型匹配裝置，能夠發(fā)現(xiàn)輸入的數(shù)據(jù)流中長度達(dá) 128 位的任意碼型，并提供位掩碼。如果匹配，排序器會(huì)進(jìn)入下一種狀態(tài)。
• 協(xié)議識(shí)別匹配模式。協(xié)議識(shí)別模式包括 16 個(gè)檢測器碼型匹配要素，用于基于協(xié)議的碼型匹配。對(duì)于 PCIe Gen3/4 和 USB 3.1 Gen2，檢測器可以匹配整個(gè)解碼的碼組凈荷，并支持位/比特掩碼。對(duì)于 8b/10b 編碼，檢測器可以在碼組/符號(hào)解碼及掩碼后匹配最多16 個(gè) 8 位符號(hào)。

協(xié)議塊/符號(hào)過濾

支持的協(xié)議植入了時(shí)鐘補(bǔ)償(跳躍)和碼組/符號(hào)過濾功能，獨(dú)立時(shí)鐘操作通常要求這些功能。檢測器中的協(xié)議過濾撥碼會(huì)在原始碼流與BER測量過濾后的碼流之間切換。

碼型排序器編輯器

BSX 系列引入了一種新的碼型編輯器，這種碼型編輯器能夠支持面向位的碼型和協(xié)議識(shí)別碼型，并支持碼型序列創(chuàng)建功能。

序列編輯器

在協(xié)議識(shí)別排序器模式中，編輯器將發(fā)生器碼型內(nèi)存中的符號(hào)協(xié)議消息轉(zhuǎn)換成協(xié)議特定數(shù)據(jù)塊（沒有任何變換）。隨后由協(xié)議特定內(nèi)存排序器處理這些數(shù)據(jù)塊。這簡化了復(fù)雜協(xié)議數(shù)據(jù)流的生成過程。

排序器

多域觀測

眼圖一直作為系統(tǒng)性能簡單、直觀的表現(xiàn)，但是很難和BER性能聯(lián)系起來，因?yàn)闇y試儀器從根本上有很大的差別。示波器測量的眼圖是由較少的測試樣本組成，不容易發(fā)現(xiàn)一些罕見偶發(fā)的事件。誤碼儀 (BERT) 能夠?qū)γ恳粋€(gè)比特計(jì)數(shù)，因此能夠提供基于很大量數(shù)據(jù)集樣本的測試，但是測試結(jié)果缺乏對(duì)信息的直觀的表征和故障排查。

BERTScope 結(jié)合兩者的優(yōu)勢，允許快速、簡單的觀測眼圖，并比傳統(tǒng)的眼圖測試樣本多至少多兩個(gè)數(shù)量級(jí)?？梢园凑丈蠄D的例子中所示的那樣，通過簡單的移動(dòng) BERT 的采樣點(diǎn)，將光標(biāo)放在感興趣的地方，使用強(qiáng)大的誤碼分析能力，獲得更多更深入的信息。例如，檢查碼型對(duì)當(dāng)前上升沿影響的敏感程度?；蛘?，使用一鍵式 BER Contour 測量，檢驗(yàn)是否性能問題是有界的，或者可能會(huì)導(dǎo)致哪些故障。在每一個(gè)例子里，測試樣本碼型可以是 231-1 的偽隨機(jī)碼，可以幫助建立模型或者故障定位。

數(shù)據(jù)豐富的眼圖

正如前面所示，BERTScope在測量數(shù)據(jù)樣本深度方面與傳統(tǒng)的眼圖測試有著巨大的差異。這個(gè)差異意味著你能看到更加真實(shí)的情況，無論是什么樣的系統(tǒng)，更多低概率事件將會(huì)隨著每次長數(shù)據(jù)碼型運(yùn)行而出現(xiàn)，不管是有隨機(jī)噪聲，還是從VCO引起的隨機(jī)抖動(dòng)。通過一鍵式的BER輪廓、抖動(dòng)峰值和Q-因子測試，能夠增加對(duì)系統(tǒng)更深層次的認(rèn)識(shí)，增加對(duì)設(shè)計(jì)的信心。

深度模板測試

由于能夠改變采樣深度，可以非常方便地在深測量與淺測量之間移動(dòng)，前者可以更準(zhǔn)確地查看實(shí)際系統(tǒng)性能，后者則與采樣示波器配套使用。下面所示的測量來自光接收機(jī)的眼圖。通過把 BERTScope采樣深度設(shè)置成僅3000個(gè)波形，BERTScope在短短1秒鐘內(nèi)生成中間所示的圖形。測得的20%的模板余量與采樣示波器上進(jìn)行的同一測量準(zhǔn)確相關(guān)。下方圖形顯示了同一設(shè)備生成的眼圖，其使用*性廓線在1 x 10-6的BER下測得。這里的模板余量下降到17%。

眼圖測試樣本深度優(yōu)勢至少是模板測試的10倍。不像其他誤碼儀提供的“偽”模板測試那樣，BERTScope能對(duì)模板邊沿的每一個(gè)樣點(diǎn)進(jìn)行采樣，包括在眼圖之上和之下的區(qū)域。不僅如此，每一個(gè)點(diǎn)都能看到之前從未看到過的深度。這意味著既是使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化模板或自定義模板持續(xù)測試幾秒，也能確保被測設(shè)備沒有隱藏的問題。

為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)提供高精度的抖動(dòng)測試

無論測試碼型的長短，靠推算得到抖動(dòng)結(jié)果得方法是不能達(dá)到最高抖動(dòng)測量精度的。BERTScope 能快速測量誤碼率水平為 1x10-9（高速信號(hào)可達(dá) 1x10-10），或者等待儀器直接測量到 1x10-12水平。對(duì)于這兩種測試方法，BERTScope 的一鍵式測量都嚴(yán)格符合 MJSQ 定義的抖動(dòng)測試方法，并且 BERTScope 中內(nèi)部的 delay 控制是誤碼儀中最HAO的，可以確保抖動(dòng)測試的精度。可使用內(nèi)置的抖動(dòng)計(jì)算模型，包括 TJ（總抖動(dòng)）、RJ（隨機(jī)抖動(dòng)）、DJ（確定性 抖動(dòng)），或者將測試數(shù)據(jù)輸出，進(jìn)行自定義的抖動(dòng)建模分析。

BSX 系列的低固有 RJ 可以同時(shí)滿足 802.3ba 的 VECP (垂直眼圖閉合代價(jià))和 J2/J9 校準(zhǔn)，并提供所需的重要余量，全面檢定100G 以太網(wǎng)芯片。

靈活的時(shí)鐘模式

BERTScope非常有特色的時(shí)鐘產(chǎn)生路徑為現(xiàn)實(shí)世界中不斷涌現(xiàn)出的設(shè)備提供了靈活的測試方案。無論是電腦插卡還是硬盤，通常都需要提供子速率（sub-rate）系統(tǒng)時(shí)鐘，例如PCI Express中100MHz的時(shí)鐘。為了能使被測系統(tǒng)正常工作，需要提供差分的系統(tǒng)時(shí)鐘，而且時(shí)鐘的幅度、偏置各有不同；BERTScope內(nèi)部提供靈活的分頻系數(shù)，其靈活構(gòu)架可以完成各種時(shí)鐘的生成。

擴(kuò)頻時(shí)鐘（SSC）通常用于串行系統(tǒng)中，以減小EMI的干擾。BERTScope可以調(diào)節(jié)的SSC的調(diào)制幅度、頻率和調(diào)制的輪廓，如三角波、正弦波等，因此允許測試任何一種使用SSC技術(shù)的*性標(biāo)準(zhǔn)。還可使用額外的調(diào)制器和信號(hào)源，在高達(dá)4 MHz的頻率上生成高幅度、低頻率的正弦抖動(dòng)（SJ）的時(shí)鐘。

可編程的基準(zhǔn)時(shí)鐘倍頻器

為進(jìn)一步增加時(shí)鐘輸入的靈活性，BSX 系列提供了一個(gè)通用基準(zhǔn)時(shí)鐘倍頻器，用戶可以為10 MHz ~ 200 MHz 的輸入基準(zhǔn)時(shí)鐘頻率范圍一個(gè)整數(shù)時(shí)鐘倍率。時(shí)鐘輸出頻率以 時(shí)鐘合成器的頻率范圍為界，在 BSX 系列中是 1 GHz ~ 16 GHz。其為許多常用標(biāo)準(zhǔn)提供了預(yù)先定義的倍率。其為許多常用標(biāo)準(zhǔn)提供了預(yù)先定義的倍率。

處理閉合的眼圖

隨著通道中電信號(hào)的數(shù)據(jù)率越來越快，通道的損耗經(jīng)常導(dǎo)致信號(hào)在Rx端的眼圖閉合。在實(shí)際的系統(tǒng)中，常使用 Equalization（均衡）補(bǔ)償通道的損傷，以得到“張開的眼圖”。泰克提供了強(qiáng)大的工具來幫助設(shè)計(jì)者檢定和測試這些系統(tǒng)中使用的接收機(jī)和發(fā)射機(jī)組件是否滿足標(biāo)準(zhǔn)。

圖形用戶界面以合理的容易跟蹤的方式表示控制功能，保持了BERTScope的一貫風(fēng)格。響應(yīng)的時(shí)域表示顯示了階權(quán)重設(shè)置的影響。頻域 Bode 圖顯示了濾波器怎樣補(bǔ)償通道損耗。

對(duì)于接收機(jī)測試，BSX 系列內(nèi)置 4 階預(yù)加重/去加重功能，能夠在儀器數(shù)據(jù)速率下運(yùn)行，在 BSX320 型號(hào)中達(dá)到 32 Gb/s。此外，快速控制輸出均衡功能可以滿足最嚴(yán)格標(biāo)準(zhǔn)的鏈路訓(xùn)練響應(yīng)時(shí)間要求。

PatternVu

PatternVu選件是一套軟件實(shí)現(xiàn)的FIR濾波器，能夠在眼圖顯示之前使用。在使用均衡的Rx系統(tǒng)中，PatternVu能夠觀測、測量在Rx端均衡之后、判定之前信號(hào)的眼圖，即能將均衡的影響包含在測試結(jié)果中。均衡器最多允許有32階(tap)，并且可以選擇每個(gè)UI的階(tap)分辨率。

PatternVu

PatternVu還包括CleanEye功能，即碼型固定的、經(jīng)過平均處理后的眼圖，可以去除眼圖的非確定性抖動(dòng)分量。CleanEye能夠在存在大量隨機(jī)抖動(dòng)的情況下，清晰地看到ISI對(duì)系統(tǒng)的影響。

單次波形數(shù)據(jù)值輸出是PatternVu的一個(gè)部分，能夠顯示所捕獲的固定碼型中的任意一個(gè)比特，非常類似實(shí)時(shí)示波器中的單次捕獲功能。一旦被捕獲，波形數(shù)據(jù)能夠以多種格式輸出，以便使用其他工具進(jìn)行分析。

增加時(shí)鐘恢復(fù)

泰克CR125A、CR175A和CR286A產(chǎn)品提供了靈活的*性時(shí)鐘恢復(fù)方案。許多標(biāo)準(zhǔn)的抖動(dòng)測試要求使用環(huán)路帶寬的時(shí)鐘恢復(fù)。使用不確定或未知的環(huán)路帶寬將帶來錯(cuò)誤的抖動(dòng)測量。泰克最XIN的時(shí)鐘恢復(fù)儀器能夠?yàn)楦鞣N標(biāo)準(zhǔn)測試提供簡單、準(zhǔn)確的測量。

直觀用戶界面提供了對(duì)所有操作參數(shù)的簡單控制。*的環(huán)路回饋視圖描繪了環(huán)路帶寬的特性—該圖是真實(shí)測量的結(jié)果，而不是數(shù)據(jù)設(shè)置過程。

BERTScope CR的使用不受BERTScope測量的限制。既可以配合其他儀器使用，如采樣示波器或誤碼儀等，也可以和其他已有的儀器一起使用。通過把這些多功能儀器與現(xiàn)有的儀器結(jié)合起來，您可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)測量。

此外，本地內(nèi)置顯示器和BERTScope用戶界面中均提供了鎖定狀態(tài)和測得參數(shù)，如碼型邊沿密度和相位誤碼，可以實(shí)時(shí)查看輸入信號(hào)特點(diǎn)和CR性能。

顯示和測量 SSC 調(diào)制

擴(kuò)頻時(shí)鐘（SSC）在最XIN的串行標(biāo)準(zhǔn)中經(jīng)常使用到，以減小 EMI 干擾，例如：SATA，PCI Express 和下一代 SAS。泰克 CR 家族支持?jǐn)U頻時(shí)鐘的恢復(fù)，能夠顯示和測量 SSC 調(diào)制波形。包括了、最小頻率偏差（ppm 或 ps 為單位）、調(diào)制變化率（dF/dT）和調(diào)制頻率等自動(dòng)化測量項(xiàng)目。也包括了數(shù)據(jù)速率的顯示以及簡單易用的垂直、水平光標(biāo)。

SSC 波形測量

增加抖動(dòng)分析

泰克CR125A、CR175A或CR286A分別與選項(xiàng)12GJ、17GJ和28GJ及采樣示波器或BERTScope相結(jié)合，實(shí)現(xiàn)了1.2 – 11.2 Gb/s可變時(shí)鐘恢復(fù)、占空比失真(DCD)測量和實(shí)時(shí)抖動(dòng)頻譜分析。抖動(dòng)頻譜顯示頻率范圍從200Hz到90MHz，可以使用光標(biāo)進(jìn)行測量。可以使用用戶可設(shè)置的頻率限定進(jìn)行抖動(dòng)的帶限測量（上圖例子中是PCI Express 2.0預(yù)設(shè)的帶寬限制和抖動(dòng)測量）。

抖動(dòng)頻譜測量。

消除接收機(jī)測試中的壓力

隨著網(wǎng)絡(luò)變化，接收機(jī)測試挑戰(zhàn)也在變化。雖然誤碼測試和接收機(jī)靈敏度之類的測試非常重要，但在現(xiàn)實(shí)世界中，必須考慮10Gb/s之類的背板系統(tǒng)和其他高速總線的接收機(jī)抖動(dòng)容限性能。壓力眼圖測試（Stressed Eye Testing）現(xiàn)在在許多的行業(yè)規(guī)范中變得越來越常見。另外，工程師可以利用壓力眼圖測試來發(fā)現(xiàn)接收機(jī)性能極限，用以檢查系統(tǒng)在設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的余量。

像進(jìn)行PCI Express 2.0這類的串行總線*性接收機(jī)壓力測試，通常需要用到多臺(tái)DU立的儀器和設(shè)備，不得不花幾個(gè)小時(shí)去設(shè)置儀器、連接被測設(shè)備。通過BERTScope一臺(tái)儀器，以及測試向?qū)砜刂扑械慕?jīng)校準(zhǔn)的壓力源，非常方便地進(jìn)行接收機(jī)壓力測試 - 這些都是在一臺(tái)儀器中完成的。該方案不需要外部電纜、混頻器、耦合器、調(diào)制器，減少了校準(zhǔn)過程，大大簡化了壓力測試的校準(zhǔn)和測試。

壓力眼圖視圖

靈活產(chǎn)生信號(hào)損傷

BERTScope內(nèi)置高質(zhì)量、經(jīng)校準(zhǔn)的各種信號(hào)損傷源，包括RJ、SJ、BUJ和SI。

ISI是許多標(biāo)準(zhǔn)中常見的信號(hào)損傷類型。BSA12500ISI差分ISI板提供了可變的鏈路長度，而不受開關(guān)頻帶空段和異常事件的影響。

靈活產(chǎn)生壓力損傷

許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ對(duì)Rx的影響。BERTScope內(nèi)置的抖動(dòng)容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動(dòng)完成這項(xiàng)測試。同時(shí)，BERTScope還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

內(nèi)置抖動(dòng)容限功能

BERTScope 碼型發(fā)生器產(chǎn)品

BERTScope碼型發(fā)生器提供了完整的PRBS碼型發(fā)生功能，支持標(biāo)準(zhǔn)和自定義碼型。

STR選項(xiàng)可以產(chǎn)生集成的、經(jīng)校準(zhǔn)的壓力信號(hào)，可以替代傳統(tǒng)多儀器、手動(dòng)校準(zhǔn)的方案。該系列產(chǎn)品可以用于系統(tǒng)自帶BER測量的案例，如DisplayPort；或配合傳統(tǒng)誤碼儀以增加產(chǎn)生帶壓力碼型的能力。

壓力眼圖測試選項(xiàng)

碼型捕獲

對(duì)未知的輸入數(shù)據(jù)有幾種處理方法。除了上面所討論的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析之外，所有 BERTScope 分析儀都有一個(gè)非常有用的標(biāo)配功能 - 碼型捕獲。該功能允許用戶重復(fù)碼型的長度，然后允許分析儀使用檢波器的 512 Mb RAM 內(nèi)存抓取傳入數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)可以用作新的檢波器參考碼型，可以進(jìn)行編輯和保存以便未來使用。

碼型捕獲

帶壓力眼圖的碼型發(fā)生器

碼型發(fā)生器帶壓力眼圖功能提供了下述特性：

• 對(duì)內(nèi)部或外部時(shí)鐘，靈活、集成地施加眼圖損傷
• 隱藏了測試的復(fù)雜性，但又不失靈活簡單的特性
• 使用BERTScope和外部ISI濾波器進(jìn)行多種標(biāo)準(zhǔn)*性測試，包括
  • OIF CEI
  • 6Gb SATA
  • PCI Express®
  • XFI
  • USB 3.1 
  • SONET
  • SAS
  • XAUI
  • 10 和 100Gb 以太網(wǎng)
  • DisplayPort
• BSX系列BERTScope內(nèi)置兩種正弦曲線干擾源。這些干擾源在內(nèi)部相加，在前面板上作為單個(gè)差分輸出。在與選配的外部BSXCOMB套件結(jié)合使用時(shí)，其支持各種正弦曲線干擾測試配置，包括PCIe Gen3和Gen4的CM和DM干擾要求。

幅度和 ISI 損傷

對(duì) ISI，外部增加 ISI：例如，長的同軸電纜，或者 4 階 Bessel-Thompson濾波器，-3dB 點(diǎn)等于 0.75 數(shù)據(jù)率

對(duì)需要模擬電路板耗散的應(yīng)用，BSA12500ISI 差分 ISI 生成板提供模擬電路板走線損耗

抖動(dòng)測量

數(shù)據(jù)速率在 Gb/s 的信號(hào)其眼寬就幾百個(gè)皮秒，甚至更少。因此準(zhǔn)確的抖動(dòng)測量是控制抖動(dòng)預(yù)算的重要部分。BERTScope 提供兩套工具來完成這些重要抖動(dòng)測試。

物理層測試套件使用廣泛認(rèn)可的 Dual Dirac 方法測試總體抖動(dòng) (Total Jitter) 和對(duì)總體抖動(dòng)的分離，隨機(jī)抖動(dòng) (RJ)、確定性抖動(dòng) (DJ)。BERTScope 采用的是誤碼儀的方法采集數(shù)據(jù)，樣本深度遠(yuǎn)大于示波器測試抖動(dòng)時(shí)所采集的樣本深度，并很少采用推算的方法測量抖動(dòng)。從根本上講，這種方法的測試精度比高度依靠推算的方法的精度要高很多。

MJSQ 標(biāo)準(zhǔn) Dual Dirac 抖動(dòng)測量。

選配的抖動(dòng)分離及定位 (Jitter Map) 是 BERTScope 上最XIN的抖動(dòng)測量套件。該套件提供了復(fù)雜的分析子集，除了 RJ 和 DJ 之外，還包括了許多更高速的標(biāo)準(zhǔn)*性測試中定義的抖動(dòng)測量。抖動(dòng)分離及定位 (Jitter Map) 能在長碼型上（例如 PRBS31）進(jìn)行抖動(dòng)測量和分離，也支持實(shí)時(shí)在線數(shù)據(jù)抖動(dòng)分析，*次能夠在較短的同步數(shù)據(jù)碼型上運(yùn)行（需要實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析選件）。

圖：抖動(dòng)分離及定位。

主要特性包括：

• DJ分解為有界不相關(guān)抖動(dòng)（BUJ），數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(dòng)（DDJ），碼間干擾抖動(dòng)（ISI），占空比失真抖動(dòng)（DCD），包含F(xiàn)/2抖動(dòng)在內(nèi)的子速率抖動(dòng)（SRJ）
• 基于誤碼測試（非推算）的TJ測量，誤碼率水平可以到10–12 甚至更小
• 區(qū)分相關(guān)和非相關(guān)性抖動(dòng)分量，減小對(duì)長碼型的DDJ和RJ測試的混淆
• 可以測量最小眼張開度的抖動(dòng)
• 增加了其他儀器所沒有的抖動(dòng)測試項(xiàng)目：加重抖動(dòng)（Emphasis Jitter），非相關(guān)抖動(dòng)（Uncorrelated Jitter），數(shù)據(jù)相關(guān)性脈寬損耗（DDPWS）和非ISI抖動(dòng)
• 直觀的抖動(dòng)分離樹顯示

抖動(dòng)峰值和BER輪廓測量的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)

靈活的外部抖動(dòng)接口

靈活的外部抖動(dòng)接口包括下述特性：

• 前面板外部高頻抖動(dòng)輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 1.0 GHz 高達(dá) 0.5 UI（值）的抖動(dòng)，可以是落在幅度和頻率邊界內(nèi)的任何類型的抖動(dòng)
• 后面板外部 SJ 低頻抖動(dòng)輸入連接器 - 可以添加從 DC 到 100 MHz 高達(dá) 1.1 ns（值）的抖動(dòng)
• 后面板 SJ 輸出
• 前面板正弦干擾輸出連接器

內(nèi)部的 RJ、BUJ 和外部高頻抖動(dòng)輸入合成幅度 0.5UI，合成抖動(dòng)中的每一項(xiàng)幅度 0.25UI?？梢允褂煤竺姘宓皖l抖動(dòng)輸入增加額外的抖動(dòng)；外部低頻抖動(dòng)、10 MHz 以下的內(nèi)部低頻 SJ、PCIe LFRJ 和 PCIe rSSC（使用選項(xiàng) PCISTR）之和限于 1.1 ns。這些限制對(duì) XSSC 選項(xiàng)的相位調(diào)制 (PM) 無效。

抖動(dòng)損傷

有界非相關(guān)性抖動(dòng)（BUJ）：

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)速率范圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 內(nèi)部PRBS發(fā)生器
• 可調(diào)幅度最高0.5UI
• 100Mb/s到2Gb/s
• 可供選擇的帶限濾波器如下表

隨機(jī)抖動(dòng)

• 支持?jǐn)?shù)據(jù)速率范圍：1.5 - 12.5 Gb/s (BSX125), 24 Gb/s (BSX240), 32 Gb/s (BSX320)
• 可調(diào)幅度最高0.5UI
• 帶寬限制10MHz~1GHz：在PCIe2模式下1.5 MHz – 100 MHz
• 波型因數(shù)(Crest factor)為16（其高斯分布至少到8倍標(biāo)準(zhǔn)偏差范圍，或誤碼率水平達(dá)到10–16）

正弦曲線抖動(dòng)

SJ 可以從 0 調(diào)節(jié)到大于等于表中范圍的水平。范圍在高調(diào)制速率和/或位速率下會(huì)減小。請(qǐng)參閱擴(kuò)頻時(shí)鐘和相位調(diào)制以了解更多 PM 功能詳細(xì)信息，以及正弦曲線抖動(dòng) (SJ)以了解更多 SJ 功能詳細(xì)信息。

1范圍可以在 1100 ps、270 ps 和 130 ps 之間選擇；范圍越低，本底抖動(dòng)越低。

2完整的 SJ 范圍為 270 ps，有 RJ 或 BUJ 時(shí)，范圍下降到 220 ps。

3HFSJ、BUJ、EXT、HF 抖動(dòng)與 RJ 總和 ≤ 0.5 UI

測試接口卡

最后，我們提供了一個(gè)解決方案，來解決在高速線路卡、主板和實(shí)時(shí)業(yè)務(wù)上進(jìn)行物理層測量的問題，那就是 BERTScope 在線數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)。通過以全新方式使用雙判定點(diǎn)結(jié)構(gòu)，該儀器能夠進(jìn)行參數(shù)測量，如抖動(dòng)、BER 輪廓和 Q 因子，以及標(biāo)準(zhǔn)中要求時(shí)鐘信號(hào)的眼圖和模板測量?？梢栽黾佣秳?dòng)定位及分離選項(xiàng)，在在線數(shù)據(jù)上查看更多層抖動(dòng)分解。您不會(huì)再因?yàn)榇a型未知、不可預(yù)測或涉及速率匹配字插入而感到無所適從?，F(xiàn)在調(diào)試變得異常簡便，只需一鍵操作就能進(jìn)行物理層測試，為您提供*的視角。

用戶軟件界面

用戶界面把可用性提升到全新高度：

• 簡單向?qū)?/li>
• 符合使用邏輯的布局和操作
• 界面之間切換方面靈活
• 豐富的測試相關(guān)信息
• 用戶輸入敏感，用顏色提醒用戶輸入數(shù)據(jù)的有效性

UI設(shè)置界面

獨(dú)立視圖中含有碼型編輯器、碼型段編輯器和碼型排序器，要求用戶提供分辨率最低為1280 x 1024的VGA兼容監(jiān)視器。

碼型和序列編輯器

物理層測試選項(xiàng)

提供了下述物理層測試選項(xiàng)：

• BER 輪廓測試
  • 為了相關(guān)性，執(zhí)行和眼圖測量一樣的采集
  • 為了準(zhǔn)確的樣點(diǎn)提供延時(shí)校準(zhǔn)
  • 自動(dòng)比例調(diào)整，一鍵式測量
  • ?從測量的數(shù)據(jù)中推算輪廓，增加實(shí)際數(shù)據(jù)的測試深度，重復(fù)更新輪廓曲線
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
  • 從 10–6 到 10–16 誤碼率水平范圍內(nèi)進(jìn)行輪廓測試

• 基本抖動(dòng)測量
  • 按照 T11.2 MJSQ BERTScan（也稱為“浴缸抖動(dòng)”）方法進(jìn)行測試和測量
  • 快速準(zhǔn)確的完成用戶可誤碼率水平的總抖動(dòng)推算，或直接測量
  • 按照 MJSQ定義的方法分離確定性抖動(dòng)和隨機(jī)抖動(dòng)
  • 為了準(zhǔn)確的樣點(diǎn)提供延時(shí)校準(zhǔn)
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
  • 一鍵式測量
  • 用戶的幅度的門限或自動(dòng)選擇門限電平
  • 根據(jù) MJSQ 定義，當(dāng)使用長碼型可選擇開始BER以提高精度

• Q 因子測量
  • 一鍵測量經(jīng)過眼圖中心的垂直橫截面
  • 簡便觀察系統(tǒng)噪聲影響
  • 輸出 CSV 格式數(shù)據(jù)
• *性輪廓測試
  • 驗(yàn)評(píng)滿足標(biāo)準(zhǔn)情況，例如 XFP/XFI 和 OIF CEI，驗(yàn)證 Tx 端性能
  • 將模板和 BER 輪廓測量結(jié)果比較，快速簡單確定被測設(shè)備是否通過 BER 特性要求

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)選項(xiàng)主要用于測試系統(tǒng)在線時(shí)數(shù)據(jù)傳輸性能。該選項(xiàng)可用于測試系統(tǒng)傳輸?shù)拇a型未知或非重復(fù)的情況，還包括為匹配時(shí)鐘速率而在數(shù)據(jù)流中插入空閑位的情況。也可適用于探測線卡信號(hào)等等。

這個(gè)選項(xiàng)使用兩個(gè)前端判決電路中的一個(gè)，通過放置在眼圖中心，判斷數(shù)據(jù)是 0 還是 1。另外一個(gè)用于探測眼圖外部以決定參數(shù)性能。這種方法對(duì)物理層問題十分有效，但并不能識(shí)別由于協(xié)議引起的邏輯層問題，也就是預(yù)計(jì)是1、發(fā)送的卻是0的情況。

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)選項(xiàng)可以能夠使得在線數(shù)據(jù)進(jìn)行 BER 輪廓、抖動(dòng)峰值和抖動(dòng)分離及定位和 Q 因子的測試。眼圖測試可以不需要該選項(xiàng)，只需要提供外部的時(shí)鐘即可。

實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)需要物理層測試選項(xiàng)，必須使用全速率時(shí)鐘。

PatternVu 均衡處理選項(xiàng)

PatternVu1為BERTScope 增加了幾個(gè)強(qiáng)大的處理功能：

• CleanEye 是一種眼圖顯示模式，將平均處理后的數(shù)據(jù)進(jìn)行眼圖分析，可消除非數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動(dòng)分量。用戶可以使用 CleanEye 測量數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動(dòng)，如 ISI 等，提供對(duì)復(fù)雜抖動(dòng)的直觀的表現(xiàn)形式。該選項(xiàng)在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限 32,768 位。
• 單次波形數(shù)據(jù)輸出將 CleanEye 輸出以 CSV 格式輸出。該輸出文件最多包含 105 比特位，可以通過 Microsoft Excel® 或其他仿真軟件處理，如 Stateye 或 MATLAB®。該功能允許對(duì)實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)的離線分析，以實(shí)現(xiàn)最XIN在 802.3aq 和 LRM 10G 以太網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)要求的 TWDP 的測試。
• FIR 濾波均衡處理器可以模擬通信鏈路，在數(shù)據(jù)顯示之前應(yīng)用一個(gè)軟件線性濾波器，以觀測和測量在 Rx 端判決電路前的眼圖性能。例如，F(xiàn)IR 濾波可以模擬背板系統(tǒng)的信號(hào)損耗，或者模擬 Rx 端的均衡器，簡化 Rx 側(cè)的均衡器設(shè)計(jì)和測試。

  濾波器的參數(shù)可用通過對(duì) FIR 濾波器中一系列階的權(quán)重調(diào)節(jié)而改變。至多 32 個(gè)階，間隔從 0.1 UI 到 1 UI，可準(zhǔn)確調(diào)整濾波器的形狀。FIR 濾波在任何重復(fù)碼型下有效，碼型長度上限32,768位。

• 單沿抖動(dòng)測量能夠?qū)λ俾蚀笥?3Gb/s 的單個(gè)邊沿進(jìn)行深誤碼率抖動(dòng)測量。單沿抖動(dòng)峰值測量功能可以計(jì)算碼型的單獨(dú)邊沿的抖動(dòng)，要求重發(fā)碼型，長度不超過 32,768。測量得到的抖動(dòng)結(jié)果中，不包含數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動(dòng)，僅顯示出非相關(guān)性抖動(dòng)分量，如隨機(jī)抖動(dòng)（RJ），有界不相關(guān)抖動(dòng)（BUJ）和正弦抖動(dòng)（PJ）。
• 靈活的測量可以讓用戶 CleanEye 波形中確切的位置進(jìn)行高精度的幅度、上升時(shí)間、下降時(shí)間和加重比例的測試?？芍匦露x標(biāo)準(zhǔn)（PCI Express 和 USB 3.1）的測量的算法。

1PatternVu 以900 Mb / s 或更高的數(shù)據(jù)速率運(yùn)行。

誤碼分析

誤碼分析是一些列和誤碼發(fā)生情況緊密聯(lián)系在一起的的視圖，能夠簡單、快速的發(fā)現(xiàn)潛在的問題?？梢苑浅７奖愕脑谘蹐D的某個(gè)區(qū)域內(nèi)放置 BERTScope 采樣點(diǎn)，探測在位置上的碼型靈敏度。例如，直接觀測碼型是否會(huì)導(dǎo)致信號(hào)邊沿時(shí)刻的提前或滯后。

BERTScope 系列產(chǎn)品標(biāo)配了許多視圖：

• 誤碼統(tǒng)計(jì)視圖以比特位和突發(fā)的統(tǒng)計(jì)來分析鏈路性能。

條狀圖：比特位和突發(fā)誤碼率的條狀圖。

• 條狀圖：比特位和突發(fā)誤碼率的條狀圖。

條狀圖顯示了誤碼和誤包隨時(shí)間的變化。例如在做溫度循環(huán)實(shí)驗(yàn)時(shí)，可以發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)故障出現(xiàn)的規(guī)律。

• 突發(fā)長度：以直方圖的形式顯示不同碼長的誤碼發(fā)生次數(shù)
• 無誤碼間隔：以直方圖的形式顯示誤碼發(fā)生之間的時(shí)間間隔
• 相關(guān)性：以直方圖形式顯示誤碼和用戶自定義塊大小，或外部標(biāo)記信號(hào)之間的位置關(guān)系
• 碼型靈敏度：以直方圖的形式顯示不同碼型位置上出現(xiàn)錯(cuò)誤的測試
• 碼組錯(cuò)誤：以直方圖顯示數(shù)據(jù)間隔的次數(shù)（或用戶碼組大小）和在碼組中出現(xiàn)誤碼次數(shù)的關(guān)系

碼型靈敏度視圖時(shí)一個(gè)強(qiáng)大的工具，用以檢查錯(cuò)誤事件和碼型之間的關(guān)系。能夠顯示出哪種碼型序列有最多的問題，支持 PRBS 和用戶自定義碼型。

前向誤碼糾錯(cuò)仿真選項(xiàng)

BERTScope因?yàn)椴捎昧藢I的誤碼定位技術(shù)，在測試中可以確定每一個(gè)誤碼發(fā)生的位置。通過用假設(shè)誤碼糾錯(cuò)器，仿真內(nèi)存塊典型的糾錯(cuò)碼，例如Reed-Solomon結(jié)構(gòu)，以通過非相關(guān)數(shù)據(jù)通道的誤碼率測試，確定找到合適的FEC方法。用戶可以設(shè)置誤碼糾錯(cuò)的力度，交織的深度以及確保符合流行的糾錯(cuò)硬件結(jié)構(gòu)。

二維誤碼映射

通過發(fā)現(xiàn)到的誤碼，分析繪制出二維誤碼分布圖。誤碼分布基于幀的大小或者復(fù)用器的寬度，分析出誤碼是否容易在幀的某個(gè)位置上，或者連接到復(fù)用器的并行總線中的某一個(gè)特定的比特位上。 這個(gè)可視化的工具能夠發(fā)現(xiàn)其他分析方法所無法觀測到的誤碼。

BSX240誤碼率測試儀抖動(dòng)容限模板選項(xiàng)

許多標(biāo)準(zhǔn)要求測試在不同頻率、不同幅度、不同調(diào)制的SJ對(duì)Rx的影響。BERTScope內(nèi)置的抖動(dòng)容限功能通過用戶自定義的容限模板，自動(dòng)完成這項(xiàng)測試。同時(shí)，BERTScope還提供了許多標(biāo)準(zhǔn)的測試庫供用戶使用。

可調(diào)節(jié)的測試參數(shù)

• BER置信度
• 每點(diǎn)測試持續(xù)時(shí)間
• BER門限
• 測試設(shè)備釋放時(shí)間
• 模板余量控制
• A/B 碼型切換控制測試精度

另外還包括在每一個(gè)選擇點(diǎn)上進(jìn)行測試的能力，以及數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為截圖或CSV文件。

誤碼位置分析調(diào)試

強(qiáng)大的誤碼分析功能 – 在這個(gè)例子中，眼圖測試結(jié)果和BER聯(lián)系在一起，發(fā)現(xiàn)并解決了內(nèi)存控制芯片的一個(gè)問題。左上角的眼圖顯示了在信號(hào)在十字交叉區(qū)域出現(xiàn)比正常眼圖所少見的特征。接著將BER判定點(diǎn)移動(dòng)到該區(qū)域上仔細(xì)勘察。Error Analysis 結(jié)果顯示出問題特征和碼型中第24個(gè)標(biāo)記位有一定的聯(lián)系。進(jìn)一步調(diào)查發(fā)現(xiàn)和IC內(nèi)部的時(shí)鐘分頻有關(guān)；系統(tǒng)時(shí)鐘是輸出數(shù)據(jù)速率的24分頻。重新設(shè)計(jì)芯片中增大了對(duì)時(shí)鐘鏈路的隔離后，就能得到右下角所示的干凈眼圖。

誤碼分析能力實(shí)例

抖動(dòng)分離及定位 (Jitter Map) 選項(xiàng)

抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)1用長碼型抖動(dòng)三角形測量法自動(dòng)抖動(dòng)分離。抖動(dòng)分離及定位(Jitter Map)擴(kuò)展了以BER為基礎(chǔ)的抖動(dòng)分離，除了按照Dual-Dirac方法測量總體抖動(dòng)（Tj）、隨機(jī)抖動(dòng)（Rj）和確定性抖動(dòng)（Dj），還可以將確定性抖動(dòng)分析為更加詳細(xì)的抖動(dòng)類型。該選項(xiàng)也能測量和分離極長碼型上的抖動(dòng)，例如PRBS31，假設(shè)系統(tǒng)受限運(yùn)行在較短的同步數(shù)據(jù)碼型上。

該選項(xiàng)的特點(diǎn)包括：

• DJ分離為有界非相關(guān)抖動(dòng)（BUJ），數(shù)據(jù)相關(guān)性抖動(dòng)（DDJ），碼間干擾抖動(dòng)（ISI），占空比失真抖動(dòng)（DCD），子速率抖動(dòng)（SRJ）2和F/2（或F2）抖動(dòng)
• 基于BER的直接測試TJ，誤碼率水平可達(dá)10–12甚至更深
• 分離相關(guān)和非相關(guān)性抖動(dòng)，減小DDJ和RJ的混淆
• 可以在數(shù)據(jù)碼型各自邊沿上可視化RJ RMS測量結(jié)果
• 支持100GbE應(yīng)用的J2和J9測試
• 支持更多的抖動(dòng)分離類型：加重抖動(dòng) (EJ)，非相關(guān)性抖動(dòng) (UJ)，數(shù)據(jù)相關(guān)性脈沖損傷 (DDPWS) 和非 ISI 抖動(dòng)
• 直觀的抖動(dòng)分離樹顯示

1抖動(dòng)分離及定位要求數(shù)據(jù)速率高于900 Mb/s。

2SRJ和F/2抖動(dòng)運(yùn)行速率最高11.2 Gb/s (所有配置)

帶壓力實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)選項(xiàng)

BERTScope帶壓力實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)選項(xiàng)幫助工程師最SHI時(shí)的數(shù)據(jù)上增加各種各樣的壓力，以模擬在現(xiàn)實(shí)的環(huán)境中，觀察被測系統(tǒng)的響應(yīng)。使用帶壓力的實(shí)時(shí)測試數(shù)據(jù)能夠測量系統(tǒng)性能的邊界極限，增加系統(tǒng)設(shè)計(jì)的信心。

• 支持全系列 BERTScope 產(chǎn)品，包括正弦 (SJ), 隨機(jī)抖動(dòng) (RJ), 有界非相關(guān)抖動(dòng) (BUJ), 正弦干擾 (SI), F/2 抖動(dòng)和擴(kuò)頻時(shí)鐘 (SSC)
• 支持最高的BERTScope數(shù)據(jù)速率
• 數(shù)據(jù)率小于等于11.2Gb/s時(shí)支持全速率時(shí)鐘；高于11.2Gb/s時(shí)，支持半時(shí)鐘速率

BSX240誤碼率測試儀符號(hào)過濾選項(xiàng)

對(duì)插入到碼流中的時(shí)鐘補(bǔ)償符號(hào)數(shù)量不確定的輸入數(shù)據(jù)流，符號(hào)過濾功能支持在輸入數(shù)據(jù)流上進(jìn)行異步BER測試，包括抖動(dòng)容限測試。

• 支持異步接收機(jī)測試，如USB 3.1，SATA和PCI Express
• 從輸入的數(shù)據(jù)中自動(dòng)過濾用戶符號(hào)，保持同步
• 對(duì)于高精度誤碼測量，誤碼檢測支持一定數(shù)量的過濾比特